Activités de recherche :

 

La mesure de température sans contact se heurte à  la
problématique de la connaissance de l’émissivité. En effet, le
flux reçu par un détecteur de rayonnement est relatif à  la
température de l’objet et à  son facteur d’émissivité. Ce facteur
dépend de nombreux paramètres: la température, la longueur d’onde,
la direction d’observation, l’état de surface.

Les méthodes classiques se basent sur une hypothèse
quant à  sa variation spectrale. La thermographie bicolore suppose
par exemple que le rapport des emissivités ne varie pas et qu’il est
connu. Ces techniques sont mises en échec pour des matériaux
sélectifs (ou l’émissivité varie fortement avec la longueur
d’onde) ou pour des procédés induisant un changement d’état de
surface (oxydations, transformations).

Cette thèse propose l’étude, le développement et
l’évaluation d’une méthode alternative innovante permettant la
mesure de champs de températures dans des conditions mêmes
défavorables, et sur tout type de matériaux opaques. Cette méthode,
appelée THERMOREFLECTOMETRIE,
permet la connaissance et le suivi en ligne du rapport des
émissivités à  deux longueurs d’onde. Ces performances sont
atteintes par la fusion des mesures du flux thermique émis par le
matériau chaud, ou thermographie, et des mesures de flux réfléchis
provenant d’une source externe, ou réflectométrie. Un prototype a
été dimensionné et développé, et affiche une précision de 10°C
à  1000°C.

Activités d'enseignement :

 

• Encadrement
  d’un groupe de 8 élèves pour le ‘parcours recherche‘ ,
  découverte de la thèse par des étudiants ingénieurs (Pédagogie,
  vulgarisation) : 45.0 h

• TD
  (L3, M1) Capteurs et Mesures: 12.0 h

• TD
  (M1) Conditionnement signal: 13.5 h

• TD
  (M1) Propriétés thermique : 4.0 h

• TP
  (L2) Acquisition et traitement : 9.0 h

• TD
  (L2) Mesures Physiques : 7.5 h

• TD
  (L3) Métrologie : 9.0 h

• Encadrement
  étudiant classe prépa TIPE : mesure de température sans
  contact.

• Co-encadrement
  stagiaire informatique : développement d’un logiciel de
  mesure thermique.

• Participe
  fête des sciences : découverte du laboratoire par des élèves du
  primaire.

Production scientifique :

25 contributions trouvées

Année	Type	Auteurs et titre du document	Liens
2018	ACL	Sinan Boztepe, Rémi Gilblas, Olivier De Almeida, Christian Gerlach, Yannick Le Maoult, Fabrice Schmidt. The role of microcrystalline structure on optical scattering characteristics of semi-crystalline thermoplastics and the accuracy of numerical input for IR-heating modeling. International Journal of Material Forming, Springer Verlag, 717-727, 11	[HAL] / [DOI]
2018	ACL	Mahmoud Harzallah, Thomas Pottier, Rémi Gilblas, Yann Landon, Michel Mousseigne, Johanna Senatore. A coupled in-situ measurement of temperature and kinematic fields in Ti-6Al-4V serrated chip formation at micro-scale. International Journal of Machine Tools and Manufacture, Elsevier	[HAL] / [DOI]
2018	COM	Benjamin Javaudin, Rémi Gilblas, Thierry Sentenac, Yannick Le Maoult. BRDF (Bidirectional Reflectivity Distribution Function) modelling for accuracy enhanced thermoreflectometry. QIRT 2018 - 14th Quantitative InfraRed Thermography Conference, 9 p.	[HAL] / [DOI]
2018	COM	Benjamin Javaudin, Rémi Gilblas, Thierry Sentenac, Yannick Le Maoult. Modélisation du comportement réfléchissant de surfaces rugueuses métalliques : détermination de la réflectivité bidirectionnelle. SFT 2018 - Congrès Français de Thermique, p.104-111	[HAL]
2018	COM	Sinan Boztepe, Rémi Gilblas, Olivier De Almeida, Yannick Le Maoult, Fabrice Schmidt. Cost-effective computational method for radiation heat transfer in semi-crystalline polymers. ESAFORM 2018 - 21ST INTERNATIONAL ESAFORM CONFERENCE ON MATERIAL FORMING, art.120005, 1960	[HAL] / [DOI]
2017	ACL	Rémi Gilblas, Thierry Sentenac, Jean-José Orteu, Mickaël Sauvée, Guillaume Sierra, Florian Gacoin, Olivier Guillaumon. Detection of Micro-Cracks on Highly Specular Reflectors: Dimensioning a Vision Machine Based on Optical Properties. IEEE Sensors Journal, Institute of Electrical and Electronics Engineers, p.7901 - 7907, 17	[HAL] / [DOI]
2017	COM	Sinan Boztepe, Rémi Gilblas, Olivier De Almeida, Fabrice Schmidt, Yannick Le Maoult. The role of microcrystalline structure on the temperature-dependent thermo-optical properties of semi-crystalline thermoplastics and non-invasive temperature measurements. SFT 2017 - Congrès annuel de la Société Française de Thermique	[HAL]
2017	COM	Sinan Boztepe, Rémi Gilblas, Olivier De Almeida, Yannick Le Maoult, Fabrice Schmidt. A non-invasive experimental approach for surface temperature measurements on semi-crystalline thermoplastics. ESAFORM 2017 - 20h International ESAFORM conference on Material Forming	[HAL]
2017	ACL	Igor Jovančević, Huy-Hieu Pham, Jean-José Orteu, Rémi Gilblas, Jacques Harvent, Xavier Maurice, Ludovic Brèthes. 3D Point Cloud Analysis for Detection and Characterization of Defects on Airplane Exterior Surface. Journal of Nondestructive Evaluation, Springer Verlag, 74, 36	[HAL] / [DOI]
2017	ACL	Igor Jovančević, Huy-Hieu Pham, Jean-José Orteu, Rémi Gilblas, Jacques Harvent, Xavier Maurice, Ludovic Brèthes. Détection et caractérisation de défauts de surface par analyse des nuages de points 3D fournis par un scanner. Instrumentation, Mesure, Métrologie, Lavoisier, p.261-282, 16	[HAL]
2016	ACL	Rémi Gilblas, Thierry Sentenac. Effect and correction of the shift in spectral images for polychromatic thermography. International Journal of Thermal Sciences, Elsevier, p. 153-160, 107	[HAL] / [DOI]
2016	COM	Rémi Gilblas, Thierry Sentenac, Yannick Le Maoult, Domingos De Sousa Meneses. Thermographie monochromatique exploitant l'invariance de l'émissivité avec la température. Congrès français de thermique 2016	[HAL]
2015	COM	Rémi Gilblas, Thierry Sentenac, Jean-José Orteu. Sélection de méthodes optiques pour la détection de défauts sur les réflecteurs optiques solaires (OSR). 14ème Colloque Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie.	[HAL]
2015	COM	Igor Jovančević, Jean-José Orteu, Thierry Sentenac, Rémi Gilblas. Inspection d'un aéronef à partir d'un système multi-capteurs porté par un robot mobile. 14ème Colloque Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie	[HAL]
2015	ACL	Andre Chateau Akue Asseko, Benoît Cosson, Fabrice Schmidt, Yannick Le Maoult, Rémi Gilblas, Eric Lafranche. Laser transmission welding of composites - Part B: Experimental validation of numerical model. Infrared Physics and Technology, Elsevier, p. 304-311, 73	[HAL] / [DOI]
2015	COM	Igor Jovančević, Jean-José Orteu, Thierry Sentenac, Rémi Gilblas. Automated visual inspection of an airplane exterior. 12th International Conference on Quality Control by Artificial Vision (QCAV'2015)	[HAL] / [DOI]
2014	ACL	Rémi Gilblas, Thierry Sentenac, D. Hernandez, Yannick Le Maoult. Quantitative temperature field measurements on a non-gray multi-materials scene by thermoreflectometry. Infrared Physics and Technology, Elsevier, p. 70-77, 66	[HAL] / [DOI]
2014	COM	Rémi Gilblas, Thierry Sentenac, D Hernandez, O Chazot, Yannick Le Maoult. Temperature monitoring on a plasmatron experiment by pyroreflectometry. QIRT 2014 - 12th International conference on Quantitative Infrared Thermography	[HAL] / [DOI]
2014	COM	Andre Chateau Akue Asseko, Benoît Cosson, Fabrice Schmidt, Rémi Gilblas, Yannick Le Maoult, Eric Lafranche. Thermal modeling in composite transmission laser welding process: light scattering and absorption phenomena coupling. ESAFORM 2014 - 17th Conference of the European Scientific Association on Material forming, p.1560-1567, 611-612	[HAL] / [DOI]
2013	ACL	Thierry Sentenac, Rémi Gilblas. Noise effect on the interpolation equation for near infrared thermography. Metrologia, IOP Publishing, 208-218, 50	[HAL] / [DOI]
2012	ACL	Thierry Sentenac, Rémi Gilblas, Daniel Hernandez, Yannick Le Maoult. Bi-color near infrared thermoreflectometry: A method for true temperature field measurement. Review of Scientific Instruments, American Institute of Physics, 83	[HAL] / [DOI]
2012	PhD	Rémi Gilblas. Mesure de champs de températures vraies par thermoréflectométrie proche infrarouge. Measurement of true temperature fields by near-infrared thermoreflectometry.	[HAL]
2011	COM	Rémi Gilblas, Thierry Sentenac, Daniel Hernandez, Yannick Le Maoult. La thermoréflectométrie 2D : une nouvelle méthode pour la détermination de champs de températures vraies sur des surfaces d'émissivités inconnues. SFT 2011 -Energie solaire et thermique, p.625-630, 2	[HAL]
2011	COM	Rémi Gilblas, Thierry Sentenac, D. Hernandez, Yannick Le Maoult. Thermoreflectometry: a new system to determine the true temperature fields on surface with unknown emissivities. Thermosense : thermal infrared applications XXXIII, art. 801305 - 12 p., 8013	[HAL] / [DOI]
2010	COM	Rémi Gilblas, Thierry Sentenac, Daniel Hernandez, Yannick Le Maoult. New approach on determination of emissivity fields using bicolor reflectometry technique. QIRT 10 -10th edition of the Quantitative Infrared Thermography, p.105-112	[HAL]